Diplomarbeiten 1996 - 2007
Gerald TRUMMER
Surface morphology of solid supported phospholipid membranes on self-organized, nanostructured semiconductor substrates
Betreuer: C.Teichert
Beginn: November 2006
Yue HOU
Topography and conductivity measuremets on nanostructures using atomic-force microscopy
Betreuer: C.Teichert
Abschluß: März 2007
Philipp OBERHUMER
Simulation und experimentelle Untersuchung von Photonischen Kristallen hoher Dielektrizitätskonstante im Mikrowellengebiet
Betreuer: F. Kuchar / R. Meisels
Abschluß: Juni 2006
Katharina RESCH (am Institut für Werkstoffkunde und -prüfung
der Kunststoffe)
Untersuchung des Zusammenhangs zwischen dem Streuverhalten und der Topographie
und Morphologie von PP Cast-Folien
Betreuer: G.Wallner/C.Teichert
Abschluss: 2004
Harald WURMBAUER
ZrO2, HfO2, and CaF2 thin films studied
by Conducting Atomic-Force Microscopy
Betreuer: C.Teichert/S.Kremmer
Abschluß: November 2005
Gabriele DERDAU
Microwave-induced Resistance Oscillations
Betreuer: R. Meisels
Abschluß: Dezember 2004
Peter HOSEMANN
Characterization of Cellulosefibers
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: Oktober 2004
Daniel PRESSL
Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen Lipid-modifizierter
Implantatoberflächen
Betreuer: C.Teichert
Abschluß: Juni 2004
Stefan BRANDSTETTER
Herstellung und Charakterisierung von PbTe-
und SiC-Schichten
Betreuer: J.Oswald/C.Teichert
Abschluß: Dezember 2003
Stephan Abermann
Herstellung von selbstorganisierten Halbleiter-Nanostrukturen
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: April 2003
Sven Peissl
Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
an Strukturen der Mikroelektronik
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: Dezember 2002
Thomas Österreicher
Numerische Simulationen zur Geometrieabhängigkeit
des Widerstandes von Quanten Halleffekt Proben
Betreuer: J. Oswald
Abschluß: Dezember 2002
Gregor Hlawacek
Morphologische Analyse von Halbleiterheterostrukturen
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: Juni 2003
Christian Hofer
Quantitative Oberflächenanalyse von Silizium/Germanium-Schichten
für Mikroelektronikbauelemente
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: Juni 2002
Roland Brunner
Kapazitätsuntersuchungen des zweidimensionalen
Elektronengases in AlGaAs/GaAs Heterostrukturen
Betreuer: R. Meisels
Abschluß: April 2001
Erich Pischler
Charakterisierung von dielektrischen Schichten
mittels Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskop
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: April 2001
Gilbert Kraushofer
Epitaktisches Wachstum von PbTe Mehrfachschichtstrukturen
mit niedriger Elektronenkonzentration
Betreuer: J. Oswald
Abschluß: Juni 2000
Fanoula Ziouzia
Untersuchungen der Elektronen-Spinresonanz
in AlGaAs/GaAs mittels Photoleitung
Betreuer: R. Meisels
Abschluß: Juni 2000
Bernhard Jamnig
Epitaktische Herstellung breiter Quantentöpfe
mit niedriger Elektronenkonzentration
Betreuer: J. Oswald
Abschluß: Dezember 1999
Sascha Kremmer
Bestimmung des Einflusses von Verunreinigungen
auf Leckströme durch SiO2-Gateoxide
mit einem UHV-Rastersondenmikroskop
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: Dezember 1999
Alfred Haas
Quantitative Charakterisierung rauher Oberflächen
mittels Rasterkraftmikroskopie
Betreuer: C. Teichert
Abschluß: September 1999
Kurt Sorschag
Strukturelle Untersuchungen von p-dotierten
Siliziumschichten
Betreuer: J. Lutz
Abschluß: Juni 1999
Thomas Harringer
Höchstfrequenzuntersuchungen an Halbleiter-Schichtstrukturen
Betreuer: R. Meisels
Abschluß: Dezember 1998
Paul Ernst Hubmer
Mechanical Properties of (ultra-)thin Wafers
Betreuer: F. Kuchar / C. Teichert
Abschluß: Dezember 1998
Michael Lucyshyn
Epitaktische Herstellung von PbTe Mehrfachschichtstrukturen
für die Untersuchung des Metall- Isolator-Überganges
Betreuer: J. Oswald, P. Ganitzer
Abschluß: November 1997
Christian Trieb
Photoleitungsuntersuchungen an PbTe Mehrfachschichtstrukturen
Betreuer: J. Oswald
Abschluß: November 1997
Paul Ganitzer
Epitaktische Herstellung von PbTe nipi-Strukturen
für Quantentransportuntersuchungen
Betreuer: J. Oswald, G. Span
Abschluß: Juni 1996
Alois Homer
Herstellung und Untersuchung von Metallgates
auf Halbleiter-Schichtstrukturen aus PbTe
Betreuer: J. Oswald
Abschluß: Juni 1996
Wolfgang Pyka
Bestimmung des Wasserstoffgehaltes
in *-BeSt-Diamantschichten mittels Fourier-Transformation- Infrarotspektroskopie
Betreuer: F.Kuchar, I. Jonak-Auer
Abschluß: Juni 1996
Zum Institut für Physik
letzte Änderung: Februar 2003
(physics@unileoben.ac.at)